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發(fā)布時(shí)間:2024-10-23作者來(lái)源:薩科微瀏覽:792
探針卡(Probe Card)在集成電路測(cè)試中起著至關(guān)重要的作用,尤其在晶圓測(cè)試(wafer test)環(huán)節(jié),探針卡作為連接ATE測(cè)試機(jī)臺(tái)和半導(dǎo)體晶圓之間的接口,確保了在芯片封裝前對(duì)其電學(xué)性能進(jìn)行初步測(cè)量和篩選。
1. 什么是探針卡?
探針卡可以形象地比作“醫(yī)生的聽(tīng)診器”,幫助工程師“聽(tīng)到”芯片的“心跳”。在芯片封裝之前,工程師需要確認(rèn)每個(gè)芯片是否正常工作,確保只有合格的芯片進(jìn)入下一步封裝流程。由于芯片極小,探針卡上的探針就像精密的“探頭”,它們與晶圓表面的焊墊(pad)或凸塊(bump)接觸,傳遞測(cè)試信號(hào)到ATE(自動(dòng)測(cè)試設(shè)備),幫助判斷芯片電性能的好壞。
2. 探針卡的結(jié)構(gòu)與組成
探針卡的結(jié)構(gòu)類(lèi)似于一塊定制的電路板(PCB),它由探針(probe)和其他功能部件組成。探針是探針卡的核心部件,負(fù)責(zé)實(shí)際與晶圓接觸,PCB則作為載體,承載探針和其他元件,并實(shí)現(xiàn)信號(hào)傳遞。根據(jù)測(cè)試要求,探針卡還可以包含其他元件,例如補(bǔ)強(qiáng)板(stiffener)以增強(qiáng)其穩(wěn)定性。
主要組成部分:
探針(Probe):負(fù)責(zé)與芯片表面焊墊接觸,將電信號(hào)傳遞給ATE設(shè)備。探針的材料多樣,常見(jiàn)的包括鎢、鈹銅等,每種材料都有其特殊的電學(xué)、機(jī)械性能。
PCB(Printed Circuit Board):電路板是探針卡的重要組成部分,它連接了探針與測(cè)試設(shè)備,確保測(cè)試信號(hào)的有效傳遞。
補(bǔ)強(qiáng)板(Stiffener):提高探針卡的機(jī)械強(qiáng)度,避免因操作或使用中的彎曲導(dǎo)致探針無(wú)法精確接觸。
3. 探針卡的分類(lèi)
根據(jù)結(jié)構(gòu)和技術(shù),探針卡可以分為以下幾種類(lèi)型:
3.1 懸臂式探針卡(Cantilever Probe Card)
懸臂式探針卡可以想象成“吊橋”。
它的探針呈懸臂狀伸向晶圓,與晶圓表面接觸。這類(lèi)探針卡成本較低,探針相對(duì)較粗,通常用于傳統(tǒng)模擬芯片、邏輯芯片等需要較大焊墊或凸塊的芯片。然而,它的探針直徑較大,針痕也較深,晶圓上的焊墊在多次接觸后容易受損。
3.2 垂直式探針卡(Vertical Probe Card)
垂直式探針卡則可以比作“電梯”,探針垂直排列,與晶圓表面垂直接觸。這種結(jié)構(gòu)可以容納更多針腳,適用于焊墊或凸塊較小的高端芯片,如手機(jī)處理器、GPU等。這類(lèi)探針卡的針痕較淺,適合反復(fù)多次測(cè)試,且探針之間的間距可以做到非常小。
3.3 MEMS探針卡(MEMS Probe Card)
MEMS探針卡采用微機(jī)電系統(tǒng)技術(shù)(Micro-Electrical-Mechanical Systems, MEMS),將探針做到極為精細(xì),適合非常小間距、高針數(shù)的測(cè)試需求。MEMS探針卡具有高度的自動(dòng)化和一致性,常用于[敏感詞]的半導(dǎo)體工藝,例如7nm、5nm的高端處理器或GPU芯片。它像是“微型手術(shù)刀”,精度極高,能夠在微米級(jí)別的空間內(nèi)進(jìn)行探針排布。
4. 探針卡的應(yīng)用與挑戰(zhàn)
探針卡作為CP(chip probing)測(cè)試中不可或缺的設(shè)備,主要用于晶圓測(cè)試環(huán)節(jié),幫助在封裝前篩選出不良芯片。每一款探針卡都是針對(duì)特定芯片的定制化產(chǎn)品,不具備通用性。因此,盡管一個(gè)芯片的年產(chǎn)量可能達(dá)到百萬(wàn)片,但探針卡的需求量通常相對(duì)較少。
在實(shí)際應(yīng)用中,探針卡的設(shè)計(jì)與選擇對(duì)測(cè)試精度、效率、成本都有很大影響。探針的壽命和穩(wěn)定性、與晶圓的接觸質(zhì)量、探針痕跡的大小、探針之間的間距等,都是需要考慮的關(guān)鍵因素。比如在高針數(shù)、短針距的測(cè)試場(chǎng)景下,垂直探針卡和MEMS探針卡的優(yōu)勢(shì)顯著,而對(duì)于成本敏感、測(cè)試要求不高的場(chǎng)景,懸臂探針卡則是一個(gè)經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的選擇。
5. 探針卡的存儲(chǔ)與維護(hù)
探針卡非常精密,使用和存儲(chǔ)中需要小心維護(hù)。探針卡通常在出廠時(shí)真空包裝,避免空氣中的濕度和雜質(zhì)對(duì)探針產(chǎn)生影響。閑置的探針卡應(yīng)存放在濕度控制良好的環(huán)境中,例如氮?dú)夤瘢3譂穸仍?5%左右,以延長(zhǎng)其使用壽命。
6. 探針卡的未來(lái)趨勢(shì):MEMS技術(shù)的崛起
隨著半導(dǎo)體工藝的不斷進(jìn)步,芯片的尺寸越來(lái)越小,焊墊間距也隨之減小。這對(duì)探針卡提出了更高的要求。MEMS探針卡憑借其極細(xì)的探針直徑、高度的一致性和穩(wěn)定性,正在成為未來(lái)高端探針卡的主流。與傳統(tǒng)懸臂探針卡不同,MEMS探針卡能夠支持更多針腳、細(xì)間距測(cè)試,并減少探針對(duì)晶圓的損傷。隨著5G、AI、物聯(lián)網(wǎng)等新興技術(shù)的發(fā)展,MEMS探針卡的需求將越來(lái)越大。
7. 國(guó)內(nèi)外探針卡市場(chǎng)
目前,全球探針卡市場(chǎng)由幾大公司主導(dǎo),F(xiàn)ormFactor(美國(guó))、Technoprobe(意大利)和MJC(日本)是前三大供應(yīng)商,占據(jù)了全球市場(chǎng)的主要份額。美國(guó)的FormFactor是[敏感詞]的探針卡制造商,其懸臂式和垂直式探針卡在全球廣泛應(yīng)用,具有極高的穩(wěn)定性。
相對(duì)而言,國(guó)內(nèi)探針卡市場(chǎng)起步較晚,但發(fā)展迅速。蘇州的強(qiáng)一半導(dǎo)體、道格特和矽利康等公司正在逐步縮小與國(guó)際巨頭之間的差距,尤其在懸臂式探針卡領(lǐng)域,國(guó)內(nèi)企業(yè)已經(jīng)具備了與國(guó)外競(jìng)爭(zhēng)的能力。在MEMS探針卡領(lǐng)域,國(guó)內(nèi)企業(yè)仍需進(jìn)一步技術(shù)積累,但隨著華為等龍頭企業(yè)的支持,未來(lái)國(guó)內(nèi)探針卡的國(guó)產(chǎn)化替代空間巨大。
8. 總結(jié)
探針卡在集成電路測(cè)試中的作用至關(guān)重要。它不僅是ATE與晶圓之間的接口,也是確保芯片良率和質(zhì)量的重要工具。
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